针对RoHS检测设计开发
测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
提供专业玩具安全检测,亦可用于测量镀层厚度和全元素分析

原理：能量色散X射线荧光分析法

分析元素：Na ～U 任意元素, 铅（Pb ）、汞（Hg ）、六价铬（Cr⁶⁺ ）、多溴联苯（PBB ）和多溴联苯醚（PBDE ）中的溴，直接分析出六价铬（Cr⁶⁺ ）含量

技术指标、：检出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm

样品形状：任意大小，任意不规则形状

样品类型：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体

X射线管：靶材 /Mo 管电压/5～50 kV 管电流/最大1～1000 μA

照射直径：2、5、8mm

探测器：Si(PIN)半导体高灵敏度探测器

滤光片：八种新型滤光片自动选择

样品定位：微动载物平台（选配）

样品观察：30倍彩色CCD摄像机

微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）软件

定量分析：理论Alpha系数法(NBS-GSC法)   

数据处理：IMB PC/AT/内存/256 MB 以上/硬盘/40 GB以上系统：Windows XP正版

功率：1.1kW

重量：40Kg

外形尺寸：550(W)×450(D)×450(H)mm

配置：标准配置：Si(PIN)半导体高灵敏度探测器(<155eV)

X光光管 (寿命>15000小时)

高压电源（RSD<0.25%）

大样品仓

高精密摄像机(130万像素)

Alpha系数法(NBS-GSC法)定量软件

计算机(方正P4品牌机，17寸液晶显示器)

打印机（爱普生彩色喷墨打印机）

测试用样品杯2个，测试用塑料薄膜数张